일반뉴스 필옵틱스, IMID 2018서 3D 검사기 최초 공개

[첨단 헬로티] 나노급 Specular Surface 3D 형상 측정 기술 적용...디스플레이, 이차전지 분야 적용 후 반도체, 어드밴스드 패키지 분야 확대 계획 이차전지 및 OLED 레이저 공정 장비 선도기업 ㈜필옵틱스(대표이사 한기수)는 ‘한국디스플레이산업전(IMID) 2018’에 참가해 3D 검사기(3D Surface Inspection)를 전시하여 참관객들의 이목을 끌었다. 필옵틱스의 3D 검사기는 패턴의 위상차를 이용한 측정 기술을 활용해 대면적 디스플레이와 웨이퍼(Wafer)의 균열(Crack)과 결함(Defect)을 빠른 시간 내에 고속으로 초정밀 검사하는 장비다. 3D 컴퓨터를 사용한 이미징 기술을 적용해 기존 검사기에서는 식별이 어려웠던 찍힘이나 표면 결함 검출이 가능한 강점이 있다. 필옵틱스는 당사의 3D 검사기는 기존에 검출되지 않던 불량 식별이 가능하고 속도도 획기적으로 빨라져 샘플 검사뿐 아니라, 양산 프로세스의 검사에 사용될 수 있어 생산성과 양품률 향상을 추구하는 고객들의 반응이 뜨겁다며 국내외 디스플레이 회사들뿐 아니라 각종 전자 부품 제조사 등 고객사들의 미팅 예약 문의도 지속 접수 중이라고 밝혔다. 필옵틱

• 김진희 기자
• 2018-10-31 09:19