산업동향 엘파인, 머신비전 표면 검사 장치 개발로 ‘주목
검사 조명 면적 확장해 검사 결과 정확성 높여 엘파인이 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 표면 검사 장치를 개발했다. 기존의 자동화한 검사시스템의 단점을 보완했다는 평가를 받고 있다. ㈜엘파인이 검사 조명 면적의 확장이 가능한 표면 검사 장치를 개발해 업계의 주목을 받고 있다. 이 제품은 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 검사 장치다. 일반적으로 모든 제품의 생산 공정에서는 제조 공정 이후에 완성된 제품의 완성도를 평가하기 위해 결함 검사 공정을 거치게 된다. 이때 결함이란 제품의 특성을 저해하는 모든 요소를 통칭한다고 할 수 있으며, 매우 작아 육안으로는 보이지 않는 것으로부터 육안으로 확인할 수 있는 크기까지 다양한 크기의 결함이 존재할 수 있다. 비교적 큰 물체의 외형상 결함의 검사는 통상 임의로 샘플을 추출해 작업자가 직접 육안으로 제품을 검사하는 방식으로 이뤄지며, 작은 물체의 경우도 현미경 등을 이용해 작업자가 검사할 수도 있다. 그러나 이 경우 생산